Меню

Основные сведения о деятельности ЦКП в 2018 году

Центр коллективного пользования

Центр коллективного пользования «Технологический и диагностический центр для производства, исследования и аттестации микро- и наноструктур» ИОФ РАН (ЦКП) был создан в 2005 г. и зарегистрирован на сайте ckp-rf.ru в 2011 г.

Более десяти лет Центр оказывает поддержку в реализации приоритетных направлений Стратегии научно-технологического развития Российской Федерации. Большая востребованность оборудования, представленного в Центре, позволяет нам удовлетворять запросы самого широкого круга исследователей.

Оборудование ЦКП в первую очередь предназначено для самых разнообразных исследований и создания широкого класса наноструктур. Сверхвысоковакуумная сканирующая туннельная микроскопия дает возможность проводить анализ атомной и электронной поверхности твердых тел.

Просвечивающая электронная микроскопия позволяет определять размеры и исследовать свойства широкого класса наночастиц (включая биологические объекты).

ЦКП располагает оборудованием для исследования рельефа поверхности, фазового портрета микрообъекта, роста и формирования различных наноструктур.

Главной целью ЦКП является повышение уровня научных исследований путем формирования современных исследовательских комплексов в области нанотехнологий, отвечающих мировым стандартам по техническим и эксплуатационным характеристикам приборного состава.

Совет пользователей

  • к.ф.-м.н. Калинушкин Виктор Петрович — председатель
  • к.ф.-м.н. Симакин Александр Владимирович
  • д.ф.-м.н., проф. Лощенов Виктор Борисович
  • д.ф.-м.н. Ельцов Константин Николаевич
  • д.ф.-м.н. Бармина Екатерина Владимировна
  • н.с. Уваров Олег Венедиктович
  • д.ф.-м.н. Воронов Валерий Вениаминович

Сотрудники ЦКП обладают высокой квалификацией и большим опытом по исследованию структуры и дефектов широкого круга органических и неорганических материалов.

Мы проводим исследования для ведущих российских научных организаций, например:

  • МГУ: Кафедра общей физики, Кафедра физики низких температур и сверхпроводимости физического факультета, Кафедра биофизики биологического факультета
  • ФИАН, Лаборатория газовых лазеров
  • ИОФ РАН, Отдел мощных лазеров
  • Российский национальный исследовательский медицинский университет имени Н. И. Пирогова
  • Научно-исследовательский институт глазных болезней
  • Институт физиологии растений им. К.А.Тимирязева РАН
  • Институт химической физики РАН
  • Институт химической физики РАН
  • Института кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН и другие.

Основными направлениями деятельности Центра являются:

  • Исследование различных микро- и наноструктур методами просвечивающей электронной микроскопии, сканирующей электронной микроскопии, микрорентгеноспектрального анализа, туннельной электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии, инфракрасной и субмиллиметровой спектроскопии, а также другими физическими методами, имеющимися в распоряжении ЦКП.
  • Разработка и изготовление полупроводниковых микро- и наноструктур по заказам организации для проведения научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ.
  • Формирование на основе кремния и германия наноструктур с заданными параметрами в соответствии с техническими зданиями организаций для проведения фундаментальных и прикладных исследований и технологических разработок.
  • Разработка новых методов и технологических процессов получения функциональных наноматериалов.
  • Расширение возможностей используемых диагностических методов и разработка новых методов исследования и диагностики наноструктурированных материалов.

ЦКП предоставляет услуги по научно-исследовательским, экспериментальным и образовательно-методическим работам в сфере ключевых направлений деятельности:

  • Атомная структура поверхности с использованием сверхвысоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии.
  • Исследование геометрии поверхности металлов, полупроводников, керамики и других не органических веществ и нанообъектов.
  • Высокоточное распределение наночастиц в коллоидных системах.
  • Пробоподготовка для электронной и оптической микроскопии.
  • Рентгенографические и рентгеноскопические услуги.
  • Распределение оптической разности хода лучей в интерферометре, соответствующее геометрическому рельефу измеряемого объекта.
  • Электронная микроскопия, пробоподготовка для электронной и оптической микроскопии.

Главной целью ЦКП является формирование современных исследовательских комплексов в области нанотехнологий, способствующих повышению уровня научных исследований, отвечающих мировым стандартам по техническим и эксплуатационным характеристикам приборного состава.

Новые направления исследований

  • Лазерные технологии создания структур на поверхности и в объеме прозрачных твердых тел (2D и 3D технологии);
  • Фемтосекундные лазерные технологии микро (нано) структурирования и функционализации поверхности твердых материалов;
  • Кристаллические наночастицы, легированные редкоземельными ионами, для визуализации, локального нагрева и неинвазивного температурного контроля биотканей;
  • Создание новых фото и магнитных нано-сенсибилизаторов для диагностики и лечения социально-значимых заболеваний;
  • Влияние физических факторов на природные и природоподобные системы разных уровней организации;
  • Зондовая и электронная микроскопия с атомным пространственным разрешением. Объекты атомного масштаба на поверхности твердого тела.
  • Квантовые системы на основе отдельных примесных атомов в полупроводниковых матрицах;
  • Наноструктурированные среды для фотоники;
  • Разработка новых классов фотолюминесцирующих наночастиц на основе углерода;
  • Физические методы исследования в искусствоведении.
Читайте также:  Оборудование для приготовления и подачи бетона и раствора

Сведения о деятельности Центра коллективного пользования научным оборудованием в 2018 году

Основные сведения о деятельности ЦКП в 2018 году

Общий объем выполненных работ (оказанных услуг), млн. рублей:

Источник

Центр коллективного пользования научным оборудованием диагностика микро и наноструктур

Научное оборудование ЦКП (номенклатура — 31 ед., нет данных о загрузке за 2021 год):

Автоматизированный зарядно-разрядный измерительно-вычислительный комплекс (АЗРИВК)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: АЗРИВК10-0,05А-5В
Фирма-изготовитель: ООО «АК Бустер»
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Россия
Год выпуска: 2015
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: не указано

Времяпролетный масс-спектрометр IONTOF SIMS5 (GmbH)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: IONTOF SIMS5
Фирма-изготовитель: ION-TOF GmbH
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Германия
Год выпуска: 2007
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: да

Вторичный ионный масс-спектрометр IMS-4F (Cameca)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: IMS-4F
Фирма-изготовитель: Cameca
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Франция
Год выпуска: 1986
Количество единиц: 1

Газо-Адсорбционный Порозиметр Thermo Scientific Surfer
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Анализатор газо-адсорбционный Surfer
Фирма-изготовитель: Thermo Scientific SURFER
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Италия
Год выпуска: 2017
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: да

Двухлучевой электронный микроскоп QUANTA 3D 200i (FEI)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: QUANTA 3D 200i
Фирма-изготовитель: FEI
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2011
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: да

ИК-спектрометр Фурье IFS-113v (Bruker)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: IFS-113v
Фирма-изготовитель: Bruker Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Германия
Год выпуска: 1988
Количество единиц: 1

Источник излучения в виде модели черного тела M345X-LC
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: M345X-LC
Фирма-изготовитель: LumaSense Technologies
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2017
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: да

Класс мультимикроскопов и профилометров CM-2000, 130
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: CM-2000, 130
Фирма-изготовитель: ЗАО «Протон-МИЭТ»
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Россия
Год выпуска: 2008
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: да

Комплекс измерительного оборудования Oriel I-V (Newport)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Oriel I-V
Фирма-изготовитель: Newport
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2009
Количество единиц: 1

Микроскоп электронный Supra 40 с комплексом диагностики микро- и наноструктур (Carl Zeiss)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Supra 40
Фирма-изготовитель: Carl Zeiss (Zeiss AG, Карл Цейсс)
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Германия
Год выпуска: 2008
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: да

Микроскоп электронный сканирующий LEO 430 SEM (Carl Zeiss)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: LEO 430 SEM
Фирма-изготовитель: Carl Zeiss
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Германия
Год выпуска: 1992
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: не указано

Оже-электронный спектрометр PHI-660 (Perkin-Elmer)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: PHI-660
Фирма-изготовитель: Perkin-Elmer
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 1987
Количество единиц: 1

Оптический микроскоп VHX-2000 (Keyence)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Keyence VHX-2000
Фирма-изготовитель: Keyence
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Япония
Год выпуска: 2014
Количество единиц: 1

Оптический эмиссионный спектрометр Plasma Tecnology PC2000 (Qxford Instruments)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Plasma Tecnology PC2000
Фирма-изготовитель: Qxford Instruments
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Великобритания
Год выпуска: 2012
Количество единиц: 1

Программно-аппаратный комплекс для обеспечения рентгенофазовых исследований ARL Xtra
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: ARL Xtra
Фирма-изготовитель: Fisher Scientific
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Россия
Год выпуска: 2014
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: да

Читайте также:  Оборудование для шиномонтажа в Костроме

Рамановский спектрометр EnSpectr R532 (ИнСпектр)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: EnSpectr R532
Фирма-изготовитель: ООО «ИнСпектр»
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Россия
Год выпуска: 2011
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: не указано

становка нанесения покрытия, с функцией сушки, вакуумным держателем и регулируемым ракелем – MSK-AFA-III
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: MSK-AFA-III
Фирма-изготовитель: MTI Corporation
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2018
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: не указано

Установка дисковой резки пластин APD2 (Logitech)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Logitech APD2
Фирма-изготовитель: Logitech LTD
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Великобритания
Год выпуска: 2013
Количество единиц: 1

Установка для нанесения пленок методом «горячей стенки» ЭЛА-50
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: ЭЛА-50
Страна происхождения фирмы-изготовителя: СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска: 1986
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: нет

Установка ионной имплантации с системой RBS анализа K2MV (НVЕЕ)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: K2MV
Фирма-изготовитель: НVЕЕ
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Нидерланды
Год выпуска: 1989
Количество единиц: 1

Установка магнетронного напыления Оратория 22M (Орион)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Оратория 22M
Фирма-изготовитель: Орион
Страна происхождения фирмы-изготовителя: СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска: 1986
Количество единиц: 1

Установка магнетронного напыления Оратория 5M (НИИ)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Оратория 5M
Фирма-изготовитель: НИИ ТМ
Страна происхождения фирмы-изготовителя: СССР (до 1991 года включительно)
Год выпуска: 1990
Количество единиц: 1

Установка плазмохимического осаждения MINI GOUPYL (Alcatel)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: MINI GOUPYL
Фирма-изготовитель: Alcatel
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Франция
Год выпуска: 1989
Количество единиц: 1

Установка плазмохимического травления и осаждения Plasmalab 100 (Qxford)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Plasmalab 100
Фирма-изготовитель: Qxford Instruments
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Великобритания
Год выпуска: 2011
Количество единиц: 1

Установка совмещения фотошаблонов и экспонирования SUSS MJB4
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: SUSS MJB4
Фирма-изготовитель: SUSS Micro Tec AG
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Германия
Год выпуска: 2012
Количество единиц: 1

Устройство для вышлифовки ямок Моdel 200 Dimpling Grinder; 220-240 VAC 50/60 Hz (Fischione)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Моdel 200 Dimpling Grinder; 220-240 VAC 50/60 Hz
Фирма-изготовитель: Fischione Instruments
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2012
Количество единиц: 1

Устройство для перфорирования образцов Model 130 Specimen Punch with Base; 3 mm (Fischione)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Model 130 Specimen Punch with Base; 3 mm
Фирма-изготовитель: Fischione Instruments
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2012
Количество единиц: 1

Устройство для перфорирования образцов Model 170 Ultrasonic Disk Cutter; 220-240 VAC 50/60 Hz (Fischione)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Model 170 Ultrasonic Disk Cutter; 220-240 VAC 50/60 Hz
Фирма-изготовитель: Fischione Instruments
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2012
Количество единиц: 1

Устройство для полировки образцов Model 160 Specimen Grinder (Fischione)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Model 160 Specimen Grinder
Фирма-изготовитель: Fischione Instruments
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2012
Количество единиц: 1

Устройство ионного утонения Model 1050 TEM Mill; Basic version; 220-240 VAC 50/60 Hz (Fischione)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Model 1050 TEM Mill; Basic version; 220-240 VAC 50/60 Hz
Фирма-изготовитель: Fischione Instruments
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2012
Количество единиц: 1

Читайте также:  Мотоблоки и навесное оборудование к ним в Пензе

Электронный микроскоп Tecnai G2 F20 U-Twin (FEI)
Загрузка прибора: нет данных за 2021 год
Марка: Tecnai G2 F20 U-Twin
Фирма-изготовитель: FEI Company
Страна происхождения фирмы-изготовителя: Соединённые Штаты Америки
Год выпуска: 2010
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения: да

Источник



ЯФ ФТИАН им. К.А. Валиева РАН

Ярославский Филиал Федерального государственного бюджетного учреждения науки Физико-технологического института имени К.А. Валиева Российской академии наук

Центр коллективного пользования «Диагностика микро- и наноструктур»

Директор ЦКП, директор Ярославского филиала ФТИАН профессор А.С.Рудый

Центр коллективного пользования «Диагностика микро- и наноструктур» объединяет оборудование Ярославского государственного университета им. П.Г. Демидова (ЯрГУ) и Ярославского Филиала Федерального государственного бюджетного учреждения науки Физико-технологического института Российской академии наук (ЯФ ФТИАН РАН).

Официальный сайт ЦКП «ДМНС» http://nano.yar.ru/ (страница на сайте ФТИАН: http://ftian.ru/cffs/).

Научное оборудование

Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Zeiss Supra-40 с рентгеновским энергодисперсионным анализатором INCA Energy Oxford Instruments.

Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL XTRA Termo Techno

Времяпролетный масс-спектрометр ION TOFF

  • Характеристики прибора
  • Исследования

Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 TF20-TF30 UT FEI Company

  • Характеристики прибора
  • Исследования

Двулучевая система Quanta 3D 200i от FEI™.

  • Сканирующий электронный микроскоп (SEM).
  • Ионный сканирующий микроскоп с сильноточным сфокусированным пучком ионов галлия (FIB).
  • Газо-инжекционная система GIS Platinum deposition (FEI™) для прецизионного нанесения слоя платины.
  • Микроманипулятор Omniprobe model 100.7 (Omniprobe Inc.).
  • Энергодисперсионный кремниевый дрейфовый детектор Apollo X (Ametek Inc.) для микрорентгеноспектрального анализа.
  • Характеристики прибора
  • Исследования

Источник

Центр коллективного пользования научным оборудованием «Диагностика микро- и наноструктур» (ЦКП ДМНС) ЯрГУ им. П.Г. Демидова

  • Открыть/ЗакрытьОсновная информация
    • Карточка организации
    • Подробнее
    • Экспресс-отчет в формате .pdf
  • Оборудование
  • Открыть/Закрыть Публикации
    • Видео
  • На карте

ЦКП ДМНС. Подробная информация

Области и основные направления научных исследований

  • Комплексные исследования в области микро- и наноэлектроники.
  • Разработка физических, технологических и метрологических основ создания критических элементов структур интегральных приборов наноэлектроники.
  • Методы диагностики микро- и наноструктур электроники, наноматериалов, биоорганических нанообъектов.
  • Разработка нанокомпозитных и наноструктурированных материалов для солнечной энергетики и химических источников тока.

Задачи центра

Основными задачами Центра являются:

  • содействие научным и образовательным организациям в выполнении проектов по приоритетным направлениям развития фундаментальной и прикладной науки и критическим технологиям федерального уровня, и в проведении экспертных работ;
  • обеспечение эффективной эксплуатации и использования приборно-аналитической базы, отвечающей мировым стандартам по техническим и эксплуатационным характеристикам, в интересах образовательных учреждений высшего профессионального образования, отраслевых, академических институтов, промышленных предприятий, коммерческих структур, выполняющих работы фундаментального и прикладного характера в рамках мероприятий программы ФЦП и различных профильных федеральных целевых программ;
  • обеспечение мирового уровня исследований и разработок в области нанотехнологий и наноматериалов;
  • интеграция научной и образовательной деятельности для подготовки и повышения квалификации специалистов в сфере нанотехнологий;
  • текущее содержание и развитие материально-технической базы Центра путем дооснащения имеющихся специализированных лабораторий приобретаемым современным научным и технологическим оборудованием для обеспечения и развития исследований в режиме коллективного пользования;
  • разработка новых и совершенствование существующих методов и методик диагностики микро- и наноструктур;
  • сохранение и развитие кадрового потенциала, в том числе создание условий для привлечения и закрепления креативной молодежи и обеспечение подготовки специалистов высшей квалификации — кандидатов и докторов наук — по приоритетным направлениям развития науки, технологий и техники;
  • организация стажировок и курсов повышения квалификации для молодых ученых России и стран СНГ по направлению работы Центра;
  • разработка программно-аппаратных комплексов, установок, стендов и методик для диагностики структурных элементов ИМС, нанотрубок, квантовых проволок, наночастиц и устройств на их основе, наноматериалов и наноструктурированных поверхностей, биоорганических нанообъектов;
  • организация и проведение семинаров, конференций, выставок и школ по основным направлениям деятельности ЦКП.

Источник